主要规格及技术指标

显微光谱探测范围：200nm～2100nm
检测器：科研级高灵敏度固态阵列检测器及InGaAs阵列检测器
最光谱采样面积：1.6x1.6μm2
最小光谱分辨率：≤2nm
最小积分时间：≤14ms
多取样光斑系统：含永久校准及电动可调节大小的多光斑系统：6个不同尺寸取样光斑（每个物镜）；第7个位置无可视光斑，作为成像用；
取样光斑在不同物镜下的采样面积：结合多光斑系统及物镜系统使光谱取样面积能达到1.6×1.6μm2 (40×物镜下) ，取样面积6×6μm2 (10×物镜下)
成像系统：高灵敏度成像系统供高清晰照片拍摄:5百万像素（15FPS帧频）
显微镜光波长透过范围：200-2100nm
紫外-可见-近红外40×物镜：1.石英光学镜头构造
2 .320-2100nm波长透过范围（使用同一物镜）
3 .NA=0.6，WD=0.36mm RMS 型物镜螺纹
4.球面相差修正
紫外-可见光-近红外先进透射光源包：1、紫外-可见光-近红外透射光路（200-2100nm）
2、含紫外-可见光-近红外可调节对齐机制 30W 氘灯
及 100W 卤素灯光源
3、采用 SampleSafe 技术，自动保护样品免受光漂白
4、全自动切换光源功能
5、稳定的电源供应
紫外-可见光-近红外先进反射光源包：1、紫外-可见光-近红外透射光路（200-2100nm）
2、含紫外-可见光-近红外可调节对齐机制 30W 氘灯及100W 卤素灯光源
3、采用 SampleSafe 技术，自动保护样品免受光漂白
4、全自动切换光源功能
5、稳定的电源供应
显微拉曼模块：
1、含 785nm 激光器
2、最大输出功率：80mW
3、带宽：0.02nm
4、激光器功率调节：通过中性密度滤光片
5、背照式半导体制冷硅线阵 CCD 探测器
6、量子效率＞70%
7、光栅：1200
8、探测范围：100-2030cm-1
9、方解石 1080cm-1 处分辨率：6.8cm-1
10、波长精度：＜1cm-1
11、波长重复性：＜0.02cm-1

主要功能及特色

紫外可见近红外微米级固态光谱仪集成了显微镜和光谱仪，利用显微镜的光路系统，可在极短时间内便捷测定微米级（检测下限达到2微米）固态颗粒的紫外-可见-近红外光波段的透射光谱、吸收光谱，反射光谱，荧光光谱及785 nm激光下的拉曼光谱，利用附加的可控变温台，可以进行-80℃至450℃范围内的测试，并可利用各种光谱用于微米级固体拍摄成像，是一台集多种常见光谱表征手段于一身，并具有强大成像功能的仪器系统。

主要附件及配置

科研级制冷型紫外-可见-近红外光谱探测器
科研级制冷型近红外光谱探测器
先进自动紫外-可见-近红外透射光源系统
先进自动紫外-可见-近红外透射光源系统
显微共聚焦拉曼主机模块
785nm激光器模块